测试报告

rrrwcw · 发表于 2013-1-31 16:40:24

本帖最后由 rrrwcw 于 2013-1-31 16:44 编辑

测试报告

zxc321007 · 发表于 2015-8-11 14:03:49

报告格式不错

迷途小书童 · 发表于 2016-3-4 20:29:10

/:^W^.强大啊！

zhanghaohao1986 · 发表于 2017-9-1 11:52:47

报告格式不错

zhanghaohao1986 · 发表于 2017-9-1 11:53:48

一定用上

tianzhaoqing · 发表于 2018-5-14 18:24:17

SGS提供表面微区元素分析测试服务

SGS offer The surface microarea element analysis Testing Services

关键词：表面元素分析 EDS 能谱分析GB/T17359-2012 微束分析定性半定量分析

背景：

随着电子设备线路设计日益复杂，焊料无铅化的严格控制，从而使得化学镍金工艺的研究和应用越来越被重视并取得了进一步的发展。

PCB作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽，PCB已经成为电子信息产品的最为重要的关键部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。但是由于成本以及技术的原因，PCB在生产和应用过程中会出现大量的失效问题。

对于这种失效问题，我们需要用到一些常用的失效分析技术，从而能保证PCB在制造的时候质量和可靠性水平。

在PCB的分析上，能谱仪可用于表面的成分分析，对焊盘与引线脚表面污染物的元素分析。能谱仪的定量分析的准确度有限，低于0.1%的含量一般不易检出。能谱与SEM结合使用可以同时获得表面形貌与成分的信息，这也是能谱仪应用广泛的原因所在。

应用范围：PCB、PCBA、FPC等。

测试步骤：将样品进行表面镀铂金后，放入扫描电子显微镜样品室中，使用15 kV的加速电压对测试位置进行放大观察，并用X射线能谱分析仪对样品进行元素定性半定量分析。

样品要求：

非磁性或弱磁性，不易潮解且无挥发性的固态样品，小于8CM*8CM*2CM。

参考标准：GB/T 17359-2012微束分析能谱法定量
联系方式 18241263058 田经理

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